Hvordan sikrer solsimuleringslampen P & X -serien nøyaktigheten av lyset gjennom strukturell stabilitet?

Som en nøkkelenhet for å teste fotovoltaiske, fotokatalytiske og fotoelektriske responsenheter, er kjernefunksjonen til solsimuleringslampen å reprodusere solspekteret og sende ut et stabilt lyssted. Imidlertid fører tradisjonelle lyskildesystemer ofte optiske komponenter til å skifte på grunn av mekanisk vibrasjon (for eksempel utstyrshåndtering, laboratorietabellvibrasjon) eller temperaturendringer (for eksempel omgivelsestemperaturstigning, oppvarming av lyskilde), som igjen forårsaker problemer som lysflekkens forvrengning og reduksjon av enhetlighet. P & X-serien løser dette bransjens smertepunkt fra roten gjennom den integrerte faste utformingen av reflektoren og objektivet, og gir pålitelig garanti for optisk tester med høy presisjon.

Kjernefordelen med den integrerte faste designen
P & X-serien bruker aluminiumslegering av luftfartsgrad som hovedmateriale i den faste braketten. Youngs modul (stivhet) er 40% høyere enn for vanlig aluminiumslegering, som effektivt kan motstå deformasjon forårsaket av mekanisk vibrasjon. Samtidig er overflaten av braketten belagt med et keramisk belegg med en lav termisk ekspansjonskoeffisient (CTE), slik at den totale CTE -verdien styres innen 2,5 × 10⁻⁶/℃, som er mye lavere enn CTE av optiske glass (7 × 10⁻⁶/℃), dermed reduserer dimensjonen av optisk glass (7 × 10⁻⁶/℃), og dermed reduserer dimensjonen av optisk glass (7 × 10⁻⁶/℃), og dermed er det mye lavere dimensjonert av optiske glass (7 × 10⁻⁶/℃), og dermed reduseres den totale CTE -verdien som er kontrollert av en CTE -verdien som er kontrollert i løpet av 2,5 × 10⁻⁶/℃/℃, Samtidig er den totale CTE -verdien som er kontrollert innen partenes overflate av en

Fikseringsringene til linsen og reflektoren er laget av titanlegering, som har bedre styrke og stivhet enn tradisjonell rustfritt stål, og gjennom presisjonsbehandling er flatheten i kontaktflaten med det optiske elementet sikret å være ≤0,01mm, og unngå optisk avvik forårsaket av monteringsspenning.

Den faste braketten vedtar en fagverksstruktur, og spenningsfordelingen av nøkkelnoder er optimalisert gjennom endelig elementanalyse (FEA), noe som øker den totale stivheten med 30%. I vibrasjonstesten tåler strukturen virkningen av 10G -akselerasjon, og forskyvningen av det optiske elementet er ≤0,02mm, noe som er langt høyere enn industristandarden på 0,1 mm.

I tillegg vedtar forbindelsen mellom braketten og det optiske elementet en "tre-punkts flytende støtte" -design, som gjør at elementet kan bevege seg litt i en spesifikk retning under termisk ekspansjon og sammentrekning, samtidig som det opprettholder posisjons nøyaktighet gjennom elastisk forhåndsinnlasting. Denne utformingen unngår ikke bare stresskonsentrasjon forårsaket av stiv forbindelse, men sikrer også stabilitet i langvarig bruk.

Varmegenerering fra lyskilder er hovedfaktoren som forårsaker temperaturendringer. P & X -serien integrerer en høye termisk konduktivitetsgrafenvarme på baksiden av lyskilden, og samarbeider med et sirkulerende vannkjølesystem for å kontrollere temperatursvingningene til lyskilden innen ± 1 ° C. Samtidig er innsiden av braketten fylt med luftgelisolasjonsmateriale for å blokkere ledningen av varme til det optiske elementet, slik at temperaturgradienten til linsen og reflektoren er ≤0,5 ° C/cm.

For ytterligere å kompensere for termisk deformasjon, vedtar braketten en bimetallisk kompensasjonsstruktur. Når temperaturen stiger, justerer kompensasjonsarket automatisk avstanden til fikseringsringen for å oppveie dimensjonsendringene forårsaket av termisk ekspansjon. Eksperimenter har vist at denne teknologien kan redusere forskyvningen av optiske elementer med 60%.

Teknologiimplementeringsvei: Full prosesskontroll fra design til verifisering
Fikseringsringene til linsen og reflektoren er produsert av et CNC Machining Center (CNC), med en overflateuhet RA≤0,4μm, noe som sikrer at det ikke er noen mikroskopisk deformasjon på kontaktflaten med det optiske elementet. Under monteringsprosessen overvåker laserinterferometeret flatheten og parallellismen til komponentene i sanntid, og automatisk alarmer når avviket overstiger 0,005mm.

Monteringen av den integrerte faste braketten vedtar en modulær design, og hver komponent er koblet sammen med en posisjoneringspinne og bolt med høy presisjon, og monteringsfeilen er ≤0,02mm. Etter at forsamlingen er fullført, utføres en 24-timers aldringstest for å sikre at den strukturelle stabiliteten oppfyller designkravene.

For å bekrefte den strukturelle stabiliteten har P & X -serien bestått en rekke strenge tester:
Vibrasjonstest: Simuler vibrasjonsmiljøet under transport, frekvensområdet er 5-200Hz, akselerasjonen er 10 g, og den varer i 1 time. Forskyvningen av det optiske elementet er ≤0,02mm;
Temperatursyklusprøve: Ekstrem temperatursyklus fra -40 ℃ til 80 ℃, hver syklus er 24 timer, totalt 10 sykluser, og spot -enhetligheten endres ≤2%;
Våt varmetest: 1000 timer i et miljø med 85 ℃/85%RF, ingen korrosjon eller forskyvning av optiske komponenter.

Spot-enhetligheten til P & X-serien blir kvantitativt evaluert ved en høyoppløselig CCD-kamera og spotanalyseprogramvare. Eksperimenter viser at ved en standard arbeidsavstand (500 mm) er intensitetsforskjellen på hvert punkt på stedet ≤5%, og etter 1000 timer kontinuerlig drift er enhetlighetsendringen ≤1%, langt over bransjestandarden på 10%.

Bransjeverdi og applikasjonsscenarier
Ved testing av solcelleeffektivitet påvirker flekkens ensartethet direkte nøyaktigheten til I-V-kurven. Spotstabiliteten til P & X -serien kan redusere effektivitetstestfeilen til ± 0,5%, og gi et pålitelig grunnlag for materiell forskning og utvikling og prosessoptimalisering.

Fotodegraderingseksperimenter er svært følsomme for lysforhold. Den strukturelle stabiliteten til P & X -serien sikrer repeterbarheten av eksperimentelle resultater, unngår feil forårsaket av lysskildeforskyvning og gir en stabil plattform for ytelsesevaluering av fotokatalysatorer.

I ikke-kontaktoverflatefeilsdeteksjon er flekkens enhetlighet P & X Series Sun Simulator Light kan forbedre nøyaktigheten av defektidentifikasjon. For eksempel, ved EL-deteksjon av fotovoltaiske moduler, kan sprekker på mikronnivå tydelig skilles ut for å hjelpe produktkvalitetskontroll.